職位描述:
1. 根據需求,完成芯片的DFT設計;
2. 負責SCAN/MBIST/Boundary SCAN/Hard Macro Test等DFT功能實現;
3. 負責DFT的時序約束優化收斂;
4. 負責DFT測試向量的生成/驗證,覆蓋率與測試時間的優化;
5. 負責測試向量調試與良率提升。
職位要求:
1. 計算機/微電子/電路與系統等芯片設計相關專業, 本科5年/碩士3年相關工作經驗;
2. 具有SOC DFT設計經驗,熟悉以下至少一種DFT設計,SCAN/MBIST/Boundary SCAN/Hard Macro Test;
3. 熟悉Synopsys/Mentor 相關工具的實現/驗證流程及使用;
4. 熟悉PCIE/DDR測試者,熟悉時序優化者優先;
5. 具有大型SOC或CPU/AI芯片經驗者優先;
6. 具有芯片ATE 測試向量調試/良率提升經驗者優先;
7. 熟悉腳本運用者優先。